NanoSystem成立于2003年，為半導體、顯示器和其他精密機械行業(yè)提供了用非接觸式表面測量方法進行測量的解決方案。 NanoSystem已經建立了非接觸式2D、3D測量和檢測系統(tǒng)的核心技術，并成為該市場解決方案的Leader。

高精度(Z軸分辨率達0.1nm)的非接觸式表面輪廓儀，采用白光掃描干涉技術，使客戶有能力看到、理解和糾正或保持產品質量。

NanoSystem NV-3200非接觸式3D光學輪廓儀為LCD、IC Package、Substrate、Build-up PCB、MEMS，Engineering Surfaces等領域提供納米級別精度的測量.

包括：非接觸3D形貌測量，更廣的測量范圍（5mm可選），自動聚焦功能（可選），拼接和線路縱斷面等功能。

NanoSystem NV-3200非接觸式3D光學輪廓儀技術參數(shù)

干涉物鏡：5物鏡可選(程控）

掃描范圍：0-180um（270um，5mm可選）

垂直分辨率：WSI：﹤0.5nm ，PSI ：﹤0.1nm

橫向分辨率：0.2-4um（取決于物鏡和FOV）

傾斜度：±6°

工作平臺：NV-P2020  200X200mm（程控）    

NV-P4050  400X500mm（程控）